高低溫試驗(yàn)箱滿足電子國標(biāo)的試驗(yàn)條件有哪些?
高低溫試驗(yàn)箱滿足電子國標(biāo)的試驗(yàn)條件有哪些?
很多顧客在選購高低溫試驗(yàn)箱時(shí)只看到很多標(biāo)準(zhǔn),卻不知道該標(biāo)準(zhǔn)是什么意思?包含的內(nèi)容是什么?小編將為你專業(yè)講解GB/T 2423.2-2008的國標(biāo)內(nèi)容,讓大家了解GB/T 2423.2-2008的國標(biāo)內(nèi)容是什么?不在盲目選購。
GB/T 2423.2是GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的2部分本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:——GB/T 2423.2-1981、GB/T 2423.2-1989、GB/T 2423.2-2001
本部分等同采用IEC 60068-2-2:2007《環(huán)境試驗(yàn) 2-2部分:試驗(yàn) 試驗(yàn)B:干熱》(英文版)。
本部分與IEC 60068-2-2:2007相比,主要做了下列編輯修改:
——刪除了1章1段中的“對于非散熱試驗(yàn)樣品“;
——2章規(guī)范性引用文件一覽表增加了對GB/T 2423.22的引用;
——刪除了IEC 60068-2-2:2007前言;
——刪除了IEC 60068-2-2:2007引言,將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容;
——4.3標(biāo)題"溫度突變與溫度漸變試驗(yàn)應(yīng)用對比"改為“溫度漸變試驗(yàn)";
——6.8.2標(biāo)準(zhǔn)“濕度"改為“濕度"。
——本部分的名稱改為:《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》;
——“本標(biāo)準(zhǔn)"一詞改為“本部分";
——增加了資料性附錄“GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)B:高溫的分類代號小寫字母之間的關(guān)系";
為清晰起見,上述修改已在正文相應(yīng)位置加了腳注。
本部分代替GB/T 2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》,與之相比主要變化如下:
——刪除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄F;
——增加了試驗(yàn)Bc:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的高溫試驗(yàn)——試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。
——刪除了試驗(yàn)Ba:非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn);
——刪除了試驗(yàn)Bc:散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn);
本部分的附錄NA、附錄NB為資料性附錄。
本部分由電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC 8)提出并歸口。
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